1、测量系统分析是用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件及操作人员的集合。
2、理想的测量系统是零方差、零偏倚、零错误概率，实际上是存在的。
3、好的测量系统是有足够的分辨率和灵敏度，变异和公差相对较小，有良好稳定的溯源性。
4、测量系统包括人机料法环等各种影响因素，在进行测量系统分析之前，我们必须充分识别影响测量的各种因素。
5、重复性：通常被称为评价人内部的变差或设备变差（EV），是同一评价人使用相同的测量仪器对同一零件上的同一特性，进行多次测量所得到的测量系统的变差
6、再现性：通常称为“评价人之间的变差”，它是指用不同评价人使用相同的测量仪器对同一产品的同一特性，进行测量的平均值的变差。
7、MSA的目的保证测量系统不产生误判，不断改进测量系统，保证我们检测系统的有效性。
10、偏倚：指对相同零件上多个特性的观测平均值与真值（参考值）的差异。
11、线性：在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。
12、盲测法：在实际测量环境下，在操作者事先不知正在对该测量系统评定的条件下，获得测量结果。
13、如果偏倚不等于零，应采用硬体修正法和软体修正法对量具进行重新校准以达到零偏倚。
14、分辨率是指测量系统识别并反映被测量最微小变化的能力。
15、不可重复性试验，如不能挑选有效样本，不进行测量系统分析。
16、测量系统变差受量具、（ ）、人员、操作方法等影响。
17、测量系统分析特性及变差类型分为：偏倚、线性、稳定性、（ ）、再现性。
18、通常要求：量具的最小精度，小于公差宽度的（ ）和过程分布6δ宽度的1/10中的较小者。
19、造成零件之间（抽样样本）再现性误差的潜在原因为使用相同的仪器、（ ）和方法测量A、B、C零件类型时的平均差异。
20、在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（ ）
21、以下描述错误的是（ ）
零件的真值永远无法得到，只能无限与之接近
数显卡尺的准确度是0.02mm
产品控制理论关注的是零件是否在指定的范围内
22、( )是指重复性随测量的预期量程的变化程度；
23、测量系统的重复性和再现性相对于公差的百分比可以接受的标准是( )。
24、位置误差通常是通过分析( A )和线形来确定。
25、重复性是由( )个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。