ThinFlim科PECVD Scrap考试

EGIS长边报警角落碎片,短边拍图无异常,一般与()关系较大
AK
Out CV
TR Clamp
AP
()区间的离子靶突出易导致干涉Glass发生碎片
INCV
AP
Out CV
HDC Out
()工序测量膜边后Index关门前L/L需要Abort做Unload
FGI
Multi
PVX
以上素有
膜边调整时T值变动()度为1mm
0.013
0.13
0.026
0.26
GD Burning一般为()工艺造成
WE
DE
SP
Photo
长短边小缺口一般为()工艺Tray位置异常导致
WE
DE
SP
Photo
手动取以下哪个区间的Glass点位容易偏移
OutCV
INCV
L/L
Port口碎片,确认本工序Index相关性,同时邀请()科室与前工序共同关注
制造
自动化
photo
Etch
手柄操作取放片,放片位置为()
PO01
PO02
PO03
PO04
PVX机台长边报警Index停留较久未做Load/Unload易导致()
Cu PT(TFT)SP
SD Remain(P) Circle
AT Invisible TE
AT False TE
月保时,需查看Robot取片时TR Clamp与Glass的距离
Port口碎片时仅需对碎片卡夹检查清洗加测PI,其余port口卡夹可直接flow
L/L报警Clamp超时,需确认Glass有无碎片和偏移现象
ATM Robot急停需确认Glass在手臂上位置有没有偏移再决定是否继续恢复手臂进行下一步动作
HDC有碎片风险需要退片时,可将Glass退到INCV,手动操作Robot将Glass取出放回卡夹
交换片失败报警需仔细确认Glass信息和实物是否对的上,假信息删除后设备恢复Auto前需再次确认Glass是否是全的,防止误删其它Glass信息
Fishboon UP/Down气管拔掉手臂会自然下垂导致fork上Glass掉落,操作时需保证设备内部没有玻璃
PVX长边报警,Index停留较久需要在恢复Index前Abort L/L,退片后执行3-5遍Load/Unload
ATM Switch损坏导致ATM sensor常亮,LL无法正常监控大气压,会导致LL在没有达到大气压就开门导致碎片
Vacuum Robot长时间未注油或注油方法不对会导致手臂运动卡顿导致碎片

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