SEM（扫描电子显微镜）可以直接观察非导电试样，无需进行前处理。
EDX（X 射线能量色散光谱仪）能够测定非金属物质以及原子序数小于 5 的元素。
缩孔缺陷中的 "无核" 缩孔，可能是由于素材表面或底漆被水、油脂类污染导致的。
针孔现象是由于涂膜干燥时溶剂蒸发及空气膨胀导致的。
以下哪种分析设备利用二次电子信号成像来观察样品的表面状态？
A. EDX
B. SEM
C. FT-IR
D. 实体显微镜
关于 FT-IR（傅立叶变换红外光谱仪），以下说法正确的是？
A. 主要用于元素定性定量分析
B. 用于有机化合物的结构解析
C. 主要用于膜厚测定
D. 用于观察样品表面三维形貌
颗粒缺陷中，无机颗粒位于底漆层时，最可能的来源是？
A. 涂料洁净度问题
B. 素材表面颗粒或环境中杂质
C. 喷涂过程中漆雾产生
D. 颜料粒子分散不良
缩孔缺陷按形成机理分为哪两类？
A. 无机型和有机型
B. 有核和无核
C. 底漆型和清漆型
D. 水基型和溶剂型
失光缺陷的主要产生原因是什么？
A. 溶剂蒸发过快
B. 硬化剂比率异常
C. 环境灰尘过多
D. 涂膜厚度过高