作答说明：请对下面每一项内容的掌握程度打分：1 = 完全不掌握，2 = 少量掌握，3 = 基本掌握，4 = 较好掌握，5 = 完全掌握
掌握 DR 整机系统组成：X 线发生单元、平板探测器、采集控制单元、工作站、PACS 传输链路各单元功能
掌握非晶硅间接转换平板、非晶硒直接转换平板探测器的层结构、光电转换机理差异
熟悉 DR 设备机型分类：固定式 DR、移动床边 DR、动态 DR、无线平板 DR 的结构特点与临床适用场景
掌握 TFT 像素阵列、读出电路、偏置图像、增益图像、缺陷像素地图的基础概念
理解 AEC 自动曝光控制的结构、电离室工作原理、AEC 曝光终止逻辑与备份时限作用
理解 DR 图像采集流程、图像读出、增益校正、偏置校正、坏像素校正的目的
理解 DR 图像后处理（窗宽窗位、谐调处理、降噪、几何校正）的适用场景与作用
能够初步辨析 DR 常见伪影：坏像素簇伪影、残影（余影）、条纹伪影、灰尘划痕伪影、不均匀伪影的诱因
了解 DR 图像质量指标：DQE、空间分辨率、对比度分辨率、图像均匀性、暗噪声的影响因素
知晓平板探测器使用环境要求（温湿度、防挤压、防撞击、避光防护）
了解 DR 日常保养内容：平板表面清洁、机架运动部件巡检、定期偏置 / 增益校准、软件维护
了解 DR 常规质控项目：探测器均匀性、空间分辨率、低对比度分辨力、AEC 重复性、管电压准确性、暗噪声检测
能够初步判断 DR 常见故障报警诱因：平板通讯中断、AEC 失效、图像持续偏暗 / 偏亮、机架运动报错
在 DR 学习内容中，你觉得最难的内容有哪些（多选）
直接 / 间接平板转换原理
TFT 阵列、像素读出电路原理
AEC 自动曝光控制机制
各类 DR 伪影成因辨析
平板探测器校正流程
平板日常防护与保养规范
DR 质控检测项目与方法
设备通讯、曝光故障排查
均无难度
你希望课堂采用哪些教学形式学习 DR 相关内容（多选）
平板探测器内部结构拆解视频
直接 / 间接转换原理仿真动画
DR 各类伪影图像案例对比展示
AEC 曝光控制演示
平板校准实操演示
故障案例研讨
质控模体实操练习
关于 DR 平板原理、AEC、图像校正、伪影、质控、维护保养，你目前有哪些困惑？