艾森半导体MSA & 8D试题 - 在线考试测评模板

:1、共20道单选题，满分100分，70分为合格2、考试时间20分钟，开卷考试，难度适中3、学员在答题前务必填写真实姓名、单位部门4、不合格者需要重考，每个IP有1次补考机会

Q1:姓名

填空1

Q2:部门

填空1

Q3:测量系统（Measurement System）是指为得到测量值而使用的（）

测量仪器（Gage）本身

测量人员

测量方法、步骤、量具、软件、测量者等全部要素的总称

测量软件

Q4:偏倚（Bias）是指（）

测量系统的标准差

不同测量者测量值平均的差异

测量值的平均和基准值（真值）之间的差异

测量系统随时间的变异

Q5:重复性（Repeatability）是指（）

一名测量者对同样的部品用同样的仪器在较短的时间内反复测量时所发生的测量值的变异

不同测量者对同一部品测量值平均的差异

测量系统随时间的变异

测量值和真值的差异

Q6:再现性（Reproducibility）是指（）

一名测量者反复测量产生的变异

对同一个部品的同样的特性利用同样的仪器几个人测量时产生的测量者之间的测量值平均之间的差异

因量具设备而发生的变异

测量系统随时间的变异

Q7:稳定性（Stability）是指（）

测量值和真值之间的差异

测量者之间的差异

对 Gage 操作范围或 Spec 范围的正确性

最少 2 次以上在不同时期对同样的部品利用同样的 Gage 测量时所得到的测量平均值之间的差异

Q8:线性（Linearity）是指（）

测量值随时间的线性变化

测量者之间的线性关系

对 Gage 的操作范围或者 Spec 范围的正确性

测量误差的线性分布

Q9:以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统（）

极差法

均值和极差法

假设检验分析

ANOVA

Q10:在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一特性进行多次测量下的变差，称为（）

重复性

偏倚

稳定性

线性

再现性

Q11:Gage R 中Nested（嵌套）适用于（）

可以反复测量的数据

连续型数据

属性数据

不可以反复测量的数据（如破坏检查）

Q12:在属性测量系统中，α 风险（生产者风险）是指（）

合格产品被拒绝，导致不必要的报废/返工，人为削减过程性能

接受了不合格产品，导致不满意的客户

测量系统随时间的变异

测量者之间的不一致

Q13:8D 方法的本质不包括以下哪一项？（）

结构化分析工具链

跨部门协同机制

个人独立问题解决

系统性问题解决流程

Q14:以下哪种情况不适合采用 8D 方法？（）

客户重大投诉

重复性质量问题

日常轻微操作失误

跨部门复杂问题

Q15:在 8D 方法的 D0 阶段，首要任务是（）。

识别问题

分析问题

解决问题

制定计划

Q16:D1 阶段成立团队时，成员人数最佳范围是：（）

1-3 人

4-8 人

9-12 人

13 人以上

Q17:D2 阶段描述问题时，不包含以下哪项要素？（）

WHO（人）

WHY（原因）

WHERE（地点）

HOW MUCH（影响程度）

Q18:以下哪项工具不属于 D4 阶段根本原因分析的常用方法？（）

5Why 法

鱼骨图法

甘特图法

故障树法

Q19:D5 阶段制定永久性纠正措施时，应优先考虑：（）

成本最低的方案

最快实施的方案

防呆（Poka-Yoke）设计

领导建议的方案

Q20:D6 阶段验证措施效果时，常用的统计工具不包括：（）

推移图

柏拉图

散布图

组织架构图

Q21:8D 与 PDCA 循环的关系，以下说法正确的是：（）

8D 完全独立于 PDCA

8D 的 D3-D6 对应 PDCA 的 DO 阶段

8D 的 D7-D8 对应 PDCA 的 ACTION 阶段

8D 仅适用于制造领域，PDCA 适用于所有领域

Q22:三现主义不包括（）。

现场

现状

现实

现物