制程应知应会考核 - 在线考试测评模板

Q1:姓名

填空1

Q2:工号

填空1

Q3:部门

填空1

Q4:1. 在统计过程控制中，用于描述过程固有波动的指标是（）

A. 均值

B. 标准差

C. 极差

D. 中位数

Q5:2. 下列数据中属于计量型数据的是（）

A. 合格品数量

B. 缺陷数

C. 电池厚度

D. 不良品率

Q6:3. 正态分布曲线的形状取决于（）

A. 均值μ

B. 标准差σ

C. 样本量n

D. 极差R

Q7:4. Cp的计算公式是（）

A. (USL-LSL)/6σ

B. (USL-μ)/3σ

C. (μ-LSL)/3σ

D. USL-LSL

Q8:5. Cpk与Cp的关系是（）

A. Cpk始终大于Cp

B. Cpk始终小于等于Cp

C. Cpk与Cp无关

D. Cpk始终等于Cp

Q9:6. 当Cpk1.0时，说明（）

A. 过程能力充足

B. 过程能力不足，需要改善

C. 过程能力优秀

D. 过程能力尚可

Q10:7. SPC控制图的理论基础是（）

A. 二项分布

B. 正态分布

C. 泊松分布

D. 指数分布

Q11:8. 控制图中的UCL表示（）

A. 中心线

B. 上控制限

C. 下控制限

D. 规格上限

Q12:9. 控制图上的点超出控制限，说明（）

A. 过程正常

B. 过程存在异常波动

C. 测量误差

D. 不需要处理

Q13:10. X̄-R控制图适用于（）

A. 计数型数据

B. 计量型数据

C. 属性数据

D. 分类数据

Q14:11. 样本均值的分布随着样本量增大而（）

A. 更分散

B. 更集中

C. 不变

D. 无规律

Q15:12. 3σ原则对应的置信水平约为（）

A. 68.27%

B. 95.45%

C. 99.73%

D. 99.99%

Q16:13. 测量系统分析中，重复性是指（）

A. 同一人多次测量的一致性

B. 不同人测量的一致性

C. 测量值与真值的接近程度

D. 测量系统的稳定性

Q17:14. 再现性是指（）

A. 同一人多次测量的一致性

B. 不同操作者测量同一零件的一致性

C. 量具的精度

D. 量具的分辨力

Q18:15. GRR（量具重复性与再现性）的可接受标准中，%GRR10%表示（）

A. 不可接受

B. 有条件接受

C. 可接受

D. 必须改进

Q19:16. 下列属于计数型控制图的是（）

A. X̄-R图

B. I-MR图

C. P图

D. X-s图

Q20:17. 过程能力指数Cpk=1.33对应的西格玛水平约为（）

A. 3σ

B. 4σ

C. 5σ

D. 6σ

Q21:18. 在SPC中，连续7点上升或下降属于（）

A. 正常波动

B. 趋势异常

C. 测量误差

D. 随机波动

Q22:19. 直方图的主要用途是（）

A. 显示数据随时间的变化

B. 显示数据的分布形态

C. 分析变量之间的关系

D. 查找根本原因

Q23:20. 中位数是指（）

A. 出现次数最多的值

B. 排序后处于中间位置的值

C. 所有值的算术平均

D. 最大值与最小值之差

Q24:21. 极差R的计算方式是（）

A. 最大值+最小值

B. 最大值-最小值

C. 最大值×最小值

D. 最大值/最小值

Q25:22. 方差是标准差的（）

A. 平方

B. 平方根

C. 倒数

D. 两倍

Q26:23. 抽样检验中，AQL表示（）

A. 接收质量限

B. 批质量水平

C. 样本量

D. 接收数

Q27:24. 在GB/T 2828.1中，检验水平Ⅱ通常适用于（）

A. 破坏性检验

B. 一般检验一般检验水平Ⅱ

C. 精密检验

D. 放宽检验

Q28:25. 计数型抽样方案由（）确定

A. 样本量n和接收数Ac

B. 均值和标准差

C. 极差和均值

D. Cp和Cpk

Q29:26. 过程性能指数Ppk与Cpk的主要区别是（）

A. Ppk使用组内标准差，Cpk使用总体标准差

B. Ppk使用总体标准差，Cpk使用组内标准差

C. 两者完全相同

D. Ppk只用于计数型数据

Q30:27. 因果图（鱼骨图）的用途是（）

A. 显示数据分布

B. 分析问题的潜在原因

C. 监控过程稳定性

D. 计算过程能力

Q31:28. 散布图用于分析（）

A. 数据的分布形态

B. 两个变量之间的相关性

C. 过程的稳定性

D. 抽样方案

Q32:29. 在SPC中，过程处于统计受控状态是指（）

A. 所有点都在规格限内

B. 过程只有普通原因引起的波动

C. Cp>1.33

D. 没有不合格品

Q33:30. 普通原因引起的波动是（）

A. 可以完全消除的

B. 过程固有的、随机的

C. 由特定事件引起的

D. 可以立即纠正的

Q34:31. 特殊原因引起的波动表现为（）

A. 始终存在

B. 不可预测的突发变化

C. 随机分布

D. 不影响过程

Q35:32. 在MSA中，线性是指（）

A. 量具在不同量程范围内的偏倚一致性

B. 量具的重复性

C. 量具的再现性

D. 量具的稳定性

Q36:33. 偏倚（Bias）是指（）

A. 测量值与真值之间的差异

B. 不同人测量的差异

C. 量具的随机误差

D. 量具的分辨力

Q37:34. 稳定性（Stability）是指（）

A. 量具在时间上的测量一致性

B. 不同人测量的一致性

C. 量具的精度

D. 量具的线性

Q38:35. 分辨力（Resolution）是指（）

A. 量具能检测到的最小变化量

B. 量具的最大量程

C. 量具的准确度

D. 量具的重复性

Q39:36. 在过程能力分析中，通常要求数据服从（）

A. 均匀分布

B. 正态分布

C. 指数分布

D. 泊松分布

Q40:37. 当过程存在异常原因时，正确的做法是（）

A. 直接计算Cpk

B. 先消除异常原因，再进行过程能力分析

C. 忽略异常数据

D. 增加样本量

Q41:38. Cpk=1.67对应的不合格品率约为（）

A. 0.57ppm

B. 63ppm

C. 2700ppm

D. 0.006ppm

Q42:39. 下列哪种控制图适用于样本量n=1的情况（）

A. X̄-R图

B. I-MR图

C. X̄-s图

D. P图

Q43:40. 全检适用于（）

A. 大批量、低成本产品

B. 小批量、高价值或安全关键产品

C. 破坏性检验

D. 连续生产

Q44:41. 下列哪项不属于七大QC工具（）

A. 检查表

B. 直方图

C. CPK分析

D. 控制图

Q45:42. 在SPC中，R图的中心线是（）

A. 极差的平均值

B. 均值的平均值

C. 标准差

D. 中位数

Q46:43. 下列属于计量型数据的有（）

A. 电池厚度

B. 电池重量

C. 合格品数量

D. 充放电电压

E. 缺陷数

Q47:44. 描述数据集中趋势的指标有（）

A. 均值

B. 中位数

C. 标准差

D. 众数

E. 极差

Q48:45. 描述数据离散程度的指标有（）

A. 极差

B. 方差

C. 标准差

D. 中位数

Q49:46. 过程能力指数包括（）

A. Cp

B. Cpk

C. Pp

D. Ppk

E. AQL

Q50:47. SPC控制图的主要类型包括（）

A. X̄-R图

B. X̄-s图

C. I-MR图

D. P图

E. 直方图

Q51:48. 控制图的判异准则包括（）

A. 点超出控制限

B. 连续7点上升或下降

C. 连续7点在中心线同一侧

D. 点呈现周期性变化

E. 点全部在规格限内

Q52:49. 测量系统分析中评价的指标包括（）

A. 偏倚

B. 线性

C. 稳定性

D. 重复性

E. 再现性

Q53:50. 关于Cp和Cpk，下列说法正确的有（）

A. Cp反映潜在能力

B. Cpk反映实际能力

C. Cpk≤Cp

D. Cp考虑中心偏移

E. Cpk=1.33表示过程能力充足，不需提升

Q54:51. 下列属于计数型控制图的有（）

A. P图

B. NP图

C. C图

D. U图

E. X̄-R图

Q55:52. 关于正态分布，下列说法正确的有（）

A. 曲线关于均值对称

B. 标准差决定曲线形状

C. 均值决定曲线位置

D. 曲线下总面积为1

E. 曲线为钟形

Q56:53. 抽样检验的类型包括（）

A. 计数型抽样

B. 计量型抽样

C. 一次抽样

D. 二次抽样

Q57:54. 过程能力分析的前提条件包括（）

A. 过程处于统计受控状态

B. 数据服从正态分布

C. 测量系统合格

D. 样本量足够

E. 过程能力充足

Q58:55. 下列属于QC七大工具的有（）

A. 检查表

B. 层别法

C. 柏拉图

D. 因果图

E. 控制图

Q59:56. 在SPC中，普通原因和特殊原因的区别包括（）

A. 普通原因是过程固有的

B. 特殊原因可归因于特定事件

C. 普通原因引起的波动是随机的

D. 特殊原因引起的波动是可预测的

E. 特殊原因可通过控制图识别

Q60:57. 控制图的实施步骤包括（）

A. 选择控制特性

B. 选择控制图类型

C. 收集数据

D. 计算控制限

E. 判定和改善

Q61:58. 在MSA中，%GRR的判定标准包括（）

A. <10%可接受

B. 10%~30%有条件接受

C. >30%不可接受

D. >50%可接受

E. 无判定标准

Q62:59. 关于Cpk=1.33，下列说法正确的有（）

A. 对应约4σ水平

B. 过程能力合格

C. 是许多行业的通用要求

D. 不合格品率约63ppm

E. 不需要改进

Q63:60. 下列哪些情况会导致过程能力指数偏低（）

A. 过程中心偏移

B. 过程波动大

C. 规格限过窄

D. 测量误差大

Q64:61. 在过程能力分析中，通常要求（）

A. 样本量足够

B. 数据正态

C. 过程受控

D. 测量系统合格

Q65:62. 下列属于过程能力改善方向的有（）

A. 减小过程波动

B. 调整过程中心

C. 放宽规格限

D. 提高测量精度

E. 增加检验频次

Q66:63. 在SPC中，R图的作用包括（）

A. 监控过程波动

B. 判断过程是否受控

C. 计算控制限

D. 监控过程均值

E. 识别异常波动

Q67:64. 关于标准差和方差，说法正确的有（）

A. 方差是标准差的平方

B. 标准差与原始数据同量纲

C. 方差与原始数据同量纲

D. 两者都反映离散程度

E. 标准差更常用于过程分析

Q68:65. 因果图通常从哪些方面分析原因（）

A. 人（Man）

B. 机（Machine）

C. 料（Material）

D. 法（Method）

E. 环（Environment）

Q69:66. 柏拉图的作用包括（）

A. 识别关键少数

B. 确定改善优先级

C. 显示数据分布

D. 展示80/20原理

E. 监控过程稳定性

Q70:67. 关于Cp、Cpk、Pp、Ppk，说法正确的有（）

A. Cp使用组内标准差

B. Pp使用总体标准差

C. Cpk考虑中心偏移

D. Ppk考虑中心偏移

E. Pp≥Cp通常

Q71:68. 控制图的选择依据包括（）

A. 数据类型（计量/计数）

B. 样本量大小

C. 子组大小是否固定

D. 过程特性

E. 客户要求

Q72:69. 关于过程受控与合格，说法正确的有（）

A. 受控不一定合格

B. 合格不一定受控

C. 受控且合格是最理想状态

D. 受控意味着没有不合格品

E. 合格意味着过程稳定

Q73:70. 在测量系统分析中，重复性差的原因可能有（）

A. 量具磨损

B. 零件内部变异大

C. 操作者技能差异

D. 量具刚性不足

E. 测量位置不固定

Q74:71. 关于AQL，说法正确的有（）

A. AQL是接收质量限

B. AQL是可接受的最差过程平均

C. AQL越小，质量要求越高

D. AQL=0表示零缺陷

E. AQL由供需双方协商确定

Q75:72. 抽样检验相对于全检的优点包括（）

A. 成本低

B. 速度快

C. 适用于破坏性检验

D. 能发现所有不合格品

E. 适用于大批量检验

Q76:73. 关于控制限和规格限，说法正确的有（）

A. 控制限由过程数据计算

B. 规格限由设计确定

C. 控制限通常比规格限窄

D. 控制限与规格限无关

E. 超出控制限说明过程异常

Q77:74. 过程能力改善的方法包括（）

A. 减少普通原因波动

B. 消除特殊原因

C. 优化工艺参数

D. 更新设备

E. 放宽检验标准

Q78:75. 关于I-MR控制图，说法正确的有（）

A. 适用于n=1的情况

B. I图监控单值

C. MR图监控移动极差

D. 适用于破坏性检验

E. 比X̄-R图更灵敏

Q79:76. 下列哪些指标可用于评价测量系统（）

A. %GR&R

B. 偏倚

C. 线性

D. 稳定性

E. Cpk

Q80:77. 下列属于计量型抽样检验的有（）

A. 测量电池厚度

B. 测量充放电电压

C. 统计不合格品数

D. 测量内阻

E. 统计缺陷数

Q81:78. 在SPC中，X̄图的控制限取决于（）

A. 子组均值

B. 子组极差

C. 子组标准差

D. 样本量

E. 规格限

Q82:79. 关于过程能力指数与不良率的关系，说法正确的有（）

A. Cpk越高，不良率越低

B. Cpk=1.0对应约2700ppm

C. Cpk=1.33对应约63ppm

D. Cpk=1.67对应约0.57ppm

E. Cpk=2.0对应约0.002ppm

Q83:80. 下列哪些属于SPC的益处（）

A. 预防不良发生

B. 减少浪费

C. 提高过程稳定性

D. 降低检验成本

E. 消除所有变异

Q84:81. 过程能力分析报告通常包括（）

A. Cp、Cpk

B. Pp、Ppk

C. 直方图

D. 控制图

E. 规格限

Q85:82. 关于改善过程能力，说法正确的有（）

A. 先消除特殊原因

B. 再减小普通原因

C. 需要管理层支持

D. 是持续改进过程

E. 可以一蹴而就

Q86:83. 标准差越大，说明数据的离散程度越大

A. 对

B. 错

Q87:84. 正态分布曲线关于均值对称

A. 对

B. 错

Q88:85. Cp和Cpk相等说明过程中心无偏移

A. 对

B. 错

Q89:86. Cpk一定大于Cp。

A. 对

B. 错

Q90:87. 控制图上的点全部在控制限内说明过程一定合格

A. 对

B. 错

Q91:88. 计量型数据可以用均值、标准差描述

A. 对

B. 错

Q92:89. 计数型数据只能用不合格品数描述

A. 对

B. 错

Q93:90. 3σ原则对应的置信水平是99.73%

A. 对

B. 错

Q94:91. 测量系统的重复性由不同操作者决定

A. 对

B. 错

Q95:92. 再现性反映不同操作者之间的测量差异

A. 对

B. 错

Q96:93. GRR小于10%表示测量系统可接受

A. 对

B. 错

Q97:94. 控制限和规格限是同一个概念

A. 对

B. 错

Q98:95. X̄-R控制图适用于计量型数据

A. 对

B. 错

Q99:96. P控制图用于监控不合格品率

A. 对

B. 错

Q100:97. 中心极限定理说明样本均值总是服从正态分布

A. 对

B. 错

Q101:98. 增加样本量可以同时减少两类错误

A. 对

B. 错

Q102:99. 过程能力分析必须在过程受控状态下进行

A. 对

B. 错

Q103:100. Cpk=1.33表示过程能力不足。

A. 对

B. 错

Q104:101. 直方图可以显示数据的分布形态。

A. 对

B. 错

Q105:102. 因果图用于分析两个变量之间的相关性。

A. 对

B. 错

Q106:103. 柏拉图基于80/20法则。

A. 对

B. 错

Q107:104. 控制图可以完全消除过程变异

A. 对

B. 错

Q108:105. 极差是最大值与最小值之差。

A. 对

B. 错

Q109:106. 中位数不受极端值影响

A. 对

B. 错

Q110:107. 样本量越大，样本均值的标准差越小

A. 对

B. 错

Q111:108. AQL是接收质量限。

A. 对

B. 错

Q112:109. 全检适用于破坏性检验。

A. 对

B. 错

Q113:110. 过程受控意味着没有不合格品

A. 对

B. 错

Q114:111. 连续7点在中心线同一侧是判异准则之一。

A. 对

B. 错

Q115:112. I-MR图适用于n=1的情况。

A. 对

B. 错

Q116:113. 测量系统的偏倚是指测量值与真值之间的差异

A. 对

B. 错

Q117:114. 量具的分辨力越高越好。

A. 对

B. 错

Q118:115. Cpk越高，不合格品率越低。

A. 对

B. 错

Q119:116. 在SPC中，所有异常波动都可以通过控制图识别

A. 对

B. 错

Q120:117. 过程能力改善是一个持续的过程。

A. 对

B. 错

Q121:118. 控制图的控制限需要定期重新计算。

A. 对

B. 错

Q122:119. 样本标准差的计算分母是n。

A. 对

B. 错

Q123:120. 在质量工程中，Minitab是常用的统计软件

A. 对

B. 错

Q124:121. SPC是IATF 16949的五大工具之一

A. 对

B. 错