20261024-2 结构化问题分析与持续改善考核试卷
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请仔细阅读题目,选择正确答案,本次考试总分100分,谢谢!
Q1:姓名
Q2:工号
:一、单选题(每题2分,共20题,合计40分)
Q3:四道主工序的 FPY 分别为 0.992、0.975、0.986、0.994,整线 RTY 约为( )。
Q4:月产 50,000 台、每台 120 个机会点、共检出 810 个缺陷,DPMO 为( )。
Q5:Cpk = 1.33 对应的短期 σ 水平约为( )。
Q6:「三西格玛墙」:20 道工序各自良率 93.32%,连乘后整体良率约为( )。
Q7:测量系统分析(MSA)中,%GRR 大于 30% 时正确的处置是( )。
Q8:DMAIC 五个阶段的正确顺序是( )。
Q9:M(测量)阶段在数据分析之前,必须通过的第一道门是( )。
Q10:需要比较三台机台的镀膜厚度是否存在真实差异,应优先使用( )。
Q11:DOE(试验设计)相对 OFAT(一次改一个因子)的核心价值是( )。
Q12:防错三级中可靠性最高、应优先采用的一级是( )。
Q13:DPU(单位缺陷数)的计算公式是:DPU = 缺陷数 ÷( )。
Q14:课程采用的速算口径中,短期 σ 水平 = 3 ×( )。
Q15:控制图的控制限 = X̄ ± 3 ×( )。
Q16:DMAIC 的 D(界定)阶段,要把客户声音(VOC)翻译成可测量、有基线、有目标的( )。
Q17:SIPOC 高阶流程图的五个要素,按流程顺序排列正确的是( )。
Q18:某事业部月返工 1,800 台次,返工成本 65 元/台次,则每月返工成本约为( )。
Q19:某事业部月报废 804 台,报废成本 480 元/台,则每月报废成本约为( )。
Q20:镀膜厚度规格 USL 520 nm、LSL 480 nm,组内标准差 σ = 4.1 nm,则 Cp 约为( )。
Q21:镀膜厚度 USL 520 nm、LSL 480 nm,过程均值 μ = 503.2 nm,组内标准差 σ = 4.1 nm,则 Cpu 约为( )。
Q22:承上题,若把过程均值调回规格中心 500 nm(σ = 4.1 nm 不变),Cpk 约为( )。
:二、判断题(每题2分,共10题,合计20分)
Q23:每道工序的良率都不错(均 ≥97.5%),整条产线的直通率也可能低到 94.8%。
Q24:控制图上的控制限就是客户规格限,两者可以混用。
Q25:Cpk 使用组内标准差 σ(短期波动),Ppk 使用整体标准差 s(含漂移)。
Q26:假设检验 p 值很大(如 p = 0.30),说明两总体确实没有差异。
Q27:DPMO 的机会点数量只要在报告前统一即可,项目过程中可以随时调整。
Q28:改善落地的优先顺序是:先防错、再探测、最后才是依赖人的行为。
Q29:项目收益只要改善团队自己测算即可,不需要财务确认。
Q30:过程尚不受控(SPC 有判异)时,也可以先对外报告 Cpk。
Q31:测量系统分析中 %GRR < 10% 表示测量系统优秀。
Q32:Cp 只看过程宽度、反映设备潜力,Cpk 额外计入了中心偏移。
:三、多选题(每题4分,共10题,合计40分)
Q33:关于直通率 RTY 与隐蔽工厂,下列说法正确的有?
Q34:关于 DPMO 的计算与红线要求,下列说法正确的有?
Q35:关于 Cpk 与 Ppk,下列说法正确的有?
Q36:关于控制限与规格限,下列说法正确的有?
Q37:关于假设检验与 p 值,下列说法正确的有?
Q38:关于测量系统分析(MSA)中 %GRR 的判据,下列说法正确的有?
Q39:关于 DMAIC 的阶段顺序与测量阶段的要点,下列说法正确的有?
Q40:关于防错三级,下列说法正确的有?
Q41:关于 DOE 与 OFAT(一次改一个因子),下列说法正确的有?
Q42:关于过程能力判定与改善收益,下列说法正确的有?
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